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TESPRO泰普進(jìn)口半導(dǎo)體測(cè)試用垂直導(dǎo)電膠TPSPCR-127
日期：2025-07-22 06:42
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摘要：
TESPRO泰普進(jìn)口半導(dǎo)體測(cè)試用垂直導(dǎo)電膠TPSPCR-127
TESPRO泰普進(jìn)口半導(dǎo)體測(cè)試用垂直導(dǎo)電膠TPSPCR-127優(yōu)良的高頻特性，測(cè)試頻率可達(dá)70GHz以上。
*小測(cè)試間隔0.1mm。
接觸阻抗安定、平均20mΩ。
適合Burn-in老化測(cè)試（-50～＋180℃）。
額定電流10A（0.5mm2／Pad）（TPSPCR-127～TPSPCR-065）TESPRO泰普進(jìn)口半導(dǎo)體測(cè)試用垂直導(dǎo)電膠TPSPCR-127
TESPRO泰普進(jìn)口半導(dǎo)體測(cè)試用垂直導(dǎo)電膠TPSPCR-127
TESPRO泰普進(jìn)口半導(dǎo)體測(cè)試用垂直導(dǎo)電膠TPSPCR-127優(yōu)良的高頻特性，測(cè)試頻率可達(dá)70GHz以上。
*小測(cè)試間隔0.1mm。
接觸阻抗安定、平均20mΩ。
適合Burn-in老化測(cè)試（-50～＋180℃）。
額定電流10A（0.5mm2／Pad）（TPSPCR-127～TPSPCR-065）TESPRO泰普進(jìn)口半導(dǎo)體測(cè)試用垂直導(dǎo)電膠TPSPCR-127
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格
TESPRO泰普進(jìn)口半導(dǎo)體測(cè)試用垂直導(dǎo)電膠TPSPCR-127
TESPRO泰普進(jìn)口半導(dǎo)體測(cè)試用垂直導(dǎo)電膠TPSPCR-127優(yōu)良的高頻特性，測(cè)試頻率可達(dá)70GHz以上。
*小測(cè)試間隔0.1mm。
接觸阻抗安定、平均20mΩ。
適合Burn-in老化測(cè)試（-50～＋180℃）。
額定電流10A（0.5mm2／Pad）（TPSPCR-127～TPSPCR-065）TESPRO泰普進(jìn)口半導(dǎo)體測(cè)試用垂直導(dǎo)電膠TPSPCR-127
| 產(chǎn)品型號(hào) | *小間隔（mm） | 間隙※1（mm） | *小Pad面積※2（mm2） | *小Pad高度 ※3（mm） | 厚度（mm） |
| TPSPCR-127 | 1.27 | 0.51 | 0.46 | 0.07112 | 0.38 |
| TPSPCR-100 | 1.00 | 0.40 | 0.28 | 0.07112 | 0.25 |
| TPSPCR-080 | 0.80 | 0.32 | 0.18 | 0.05334 | 0.22 |
| TPSPCR-065 | 0.65 | 0.26 | 0.12 | 0.05334 | 0.17 |
| TPSPCR-050 | 0.50 | 0.20 | 0.071 | 0.03556 | 0.14 |
| TPSPCR-040 | 0.40 | 0.16 | 0.045 | 0.03556 | 0.11 |
| TPSPCR-030 |
0.30 |
0.12 | 0.025 | 0.02667 | 0.09 |
| TPSPCR-020 | 0.20 | 0.08 | 0.011 |
0.01778 |
0.06 |
| TPSPCR-010 |
0.10 |
0.04 | 0.0028 | 0.01778 | 0.05 |
※1、指待測(cè)Pad表面的間隙。
※2、指兩側(cè)的待測(cè)Pad接觸部分面積。
※3、指兩側(cè)的待測(cè)Pad的高度。